Characterizing crystalline defects in single Xe nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays - CEA - Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physics: Conference Series Année : 2020

Characterizing crystalline defects in single Xe nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays

A Niozu
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T Nishiyama
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Y Ito
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K Asa
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Y Sato
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D You
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Y Li
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T Ono
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K Matsuda
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Résumé

Synopsis We performed a wide-angle X-ray scattering experiment of single Xe nanoparticles using an X-ray free electron laser. We developed a novel analysis method that focuses on the angular correlation between plural Bragg spots in single-shot diffraction patterns. The angular correlations of the Bragg spots encode rich structural information and offer an evidence of twinning and stacking faults in Xe nanoparticles.
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Licence : CC BY - Paternité

Dates et versions

cea-04459243 , version 1 (27-02-2024)

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Citer

A Niozu, Y Kumagai, T Nishiyama, H Fukuzawa, K Motomura, et al.. Characterizing crystalline defects in single Xe nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays. Journal of Physics: Conference Series, 2020, 1412, pp.202028. ⟨10.1088/1742-6596/1412/20/202028⟩. ⟨cea-04459243⟩
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