Article Dans Une Revue Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering Année : 2023

Use of EBIC for MTF measurement of HOT MCT focal plane planar array with very small pixel pitches

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Bustillos Vasco et al. - 2023 - SPIE - Use of EBIC for MTF measurement of HOT MCT focal plane planar array with very small pixel pitches.pdf (1.43 Mo) Télécharger le fichier
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cea-04575251 , version 1 (14-05-2024)

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Samantha Bustillos Vasco, Nicolas Baier, Clément Lobre, Olivier Gravrand, Laurent Rubaldo. Use of EBIC for MTF measurement of HOT MCT focal plane planar array with very small pixel pitches. Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2023, Infrared Technology and Applications XLIX, 12534, pp.1253412. ⟨10.1117/12.2663758⟩. ⟨cea-04575251⟩
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