Statistical Analysis of the Charge Collected in SOI and Bulk Devices Under Heavy lon and Proton Irradiation—Implications for Digital SETs
Véronique Ferlet-Cavrois
(1)
,
Philippe Paillet
(1)
,
Marc Gaillardin
(1)
,
Damien Lambert
(1)
,
Jacques Baggio
(1)
,
J. Schwank
(2)
,
G. Vizkelethy
(2)
,
M. Shaneyfelt
(2)
,
K. Hirose
(3)
,
E. Blackmore
(4)
,
O. Faynot
(5)
,
C. Jahan
(5)
,
L. Tosti
(5)
1
CEA -
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
2 SNL - Sandia National Laboratories [Albuquerque]
3 ISAS - Institute of Space and Astronautical Science
4 TRIUMF [Vancouver]
5 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
2 SNL - Sandia National Laboratories [Albuquerque]
3 ISAS - Institute of Space and Astronautical Science
4 TRIUMF [Vancouver]
5 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Damien Lambert
- Function : Author
- PersonId : 747559
- IdHAL : damien-lambert
- ORCID : 0000-0003-2150-4315
K. Hirose
- Function : Author
- PersonId : 765659
- ORCID : 0000-0003-4366-7721
- IdRef : 176588965