OPTICAL SPECTROSCOPY AND X-RAY MICRODIFFRACTION STUDY OF HIGHLY STRAINED GE NANOSTRUCTURES - CEA - Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

OPTICAL SPECTROSCOPY AND X-RAY MICRODIFFRACTION STUDY OF HIGHLY STRAINED GE NANOSTRUCTURES

Kevin Guilloy
  • Fonction : Auteur
Silicon Nanoelectronics Photonics and Structures
Nicolas Pauc
  • Fonction : Auteur
Silicon Nanoelectronics Photonics and Structures
Alban Gassenq
Silicon Nanoelectronics Photonics and Structures
P. Gentile
Silicon Nanoelectronics Photonics and Structures
Samuel Tardif
Nanostructures et Rayonnement Synchrotron
Francois Rieutord
Nanostructures et Rayonnement Synchrotron
Vincent Calvo
Silicon Nanoelectronics Photonics and Structures
J.M. Escalante
  • Fonction : Auteur
Nanophotonics Technology Centre, Universidad Politecnica de Valencia
Ivan Duchemin
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Y. M. Niquet
  • Fonction : Auteur
Laboratory of Atomistic Simulation
Guilherme Osvaldo Dias
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
D. Rouchon
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
J. Widiez
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
J.M. Hartmann
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1041954
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Alexei Chelnokov
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Vincent Reboud
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Richard Geiger
  • Fonction : Auteur
Paul Scherrer Institute
Thomas Zabel
  • Fonction : Auteur
Paul Scherrer Institute
Hans Sigg
  • Fonction : Auteur
Paul Scherrer Institute
Jerome Faist
  • Fonction : Auteur
Eidgenössische Technische Hochschule - Swiss Federal Institute of Technology [Zürich]

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Matériaux Optique / photonique

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https://cea.hal.science/cea-01998277

Soumis le : mardi 29 janvier 2019-15:17:19

Dernière modification le : mardi 10 décembre 2024-03:31:52

Fichier non déposé

Dates et versions

cea-01998277 , version 1 (29-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : cea-01998277 , version 1

Citer

Kevin Guilloy, Nicolas Pauc, Alban Gassenq, P. Gentile, Samuel Tardif, et al.. OPTICAL SPECTROSCOPY AND X-RAY MICRODIFFRACTION STUDY OF HIGHLY STRAINED GE NANOSTRUCTURES. 12th International Conference on Group IV Photonics, Aug 2015, Vancouver, Canada. ⟨cea-01998277⟩

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