Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2022

Coupling Electronic Holography and Finite-Element Method Simulations to Measure Electric Fields in Nanocapacitors.

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hal-04956696 , version 1 (20-02-2025)

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Kilian Gruel, Raphaël Serra, Leifeng Zhang, Aurélien Masseboeuf, Martin Hÿtch, et al.. Coupling Electronic Holography and Finite-Element Method Simulations to Measure Electric Fields in Nanocapacitors.. Microscopy and Microanalysis, 2022, Analytical Sciences Symposia, 28 (S1), pp.2278-2280. ⟨10.1017/S1431927622008753⟩. ⟨hal-04956696⟩
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