Coupling Electronic Holography and Finite-Element Method Simulations to Measure Electric Fields in Nanocapacitors.
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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licence |
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Aurélien Masseboeuf : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04956696
Soumis le : jeudi 20 février 2025-09:23:34
Dernière modification le : samedi 22 février 2025-03:19:47